\begingroup\makeatletter\@firstofone{\endgroup
\let\ps@empty\ps@headings \let\ps@plain\ps@headings}
\pagestyle{headings}

\section{Bevezetés}\bigskip  %a biskip nagy távolság két paragrafus közt


A szilárd kristályos anyagokat az jellemzi, hogy atomjaik szabályos rendben helyezkednek el, azaz kristályrácsot alkotnak. Ez a szerkezet lényegesen befolyásolja az anyag fizikai tulajdonságait, ugyanabból az elembõl felépülõ, de különbözõ kristályszerkezetû anyagok alapvetõen különbözõ fizikai tulajdonságokkal rendelkeznek. Jó példa erre a grafit és a gyémánt, melyek szén atomokból épülnek fel, de különbözõ a kristályszerkezetük, emiatt számos fizikai tulajdonságukban - hõvezetõ képesség, keménység, fényáteresztõ képesség- különböznek.

Általában azonban a valódi szilárd anyagok sohasem ideálisak, rácshibák bontják meg a kristályos rendet, mely rácshibák hatással vannak az anyag tulajdonságaira. Tehát nemcsak az anyag kristályszerkezete, hanem a szerkezet hibái is befolyásolják a fizikai tulajdonságokat.  A rácshibákat kiterjedésük szerint csoportosítjuk:
\begin{enumerate}
\item [\textit{i},] ponthibák vagy 0 dimenziós hibák, pl. vakanciák, intersticiális vagy idegen atomok.
\item [\textit{ii},] vonalhibák vagy 1 dimenziós hibák, pl. diszlokációk.
\item [\textit{iii},] síkhibák vagy 2 dimenziós hibák, pl. rétegzõdési hiba, ikerhatár, szemcsehatár.
\item [\textit{iv},] térfogati hibák vagy 3 dimenziós hibák, pl. második fázisú kiválások, üregek, repedések.
\end{enumerate}

A rácshibák mennyisége és minõsége, vagyis a mikroszerkezet nagyon változatos lehet, így azonos kristályszerkezetû anyagok nagyon eltérõ fizikai tulajdonságokkal rendelkezhetnek. Egy kristályos anyag keménysége, ridegsége, folyáshatára és számos más tulajdonsága erõsen mikroszerkezet függõ. 

A mikroszerkezetet az anyag elõállítási körülményei és az utólagosan alkalmazott kezelések határozzák meg. Ahhoz, hogy megértsük, hogy a különbözõ kezelések és megmunkálások miként befolyásolják egy anyag mikroszerkezetét és ezáltal megtervezhetõ fizikai tulajdonságokkal rendelkezõ anyagokat tudjunk elõállítani, szükség van olyan módszerekre, amelyekkel meghatározható az anyagban lévõ rácshibák minõsége és mennyisége, azaz a mikroszerkezet.

Ilyen módszerek például a mikroszkópos eljárások, mint az optikai mikroszkóp, transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM), pásztázó elektronmikroszkóp (SEM), melyek elõnye, hogy a mikroszerkezetrõl közvetlen képet adnak, hátrányuk viszont, hogy mivel az anyagnak csak nagyon kis hányadát lehet ezekkel a módszerekkel vizsgálni, csak a lokális mikroszerkezetrõl kapunk információt. A nem lokális módszerek közül a legelterjedtebbek a röntgen és neutron diffrakciós technikák, melyek a vonalprofil analízis segítségével az anyag átlagos mikroszerkezetérõl adnak információt. Az így kapott mikroszerkezeti paraméterek értékei statisztikailag nagyobb biztonsággal jellemzik a mikroszerkezetet mint a mikroszkópos vizsgálatok, mert nagyságrendekkel nagyobb térfogatról adnak információt.

Jelen dolgozatomban azt kívánom bemutatni, hogy polikristályos hexagonális-szoros-illeszkedésû \textit{(hcp)} fémek esetén hogyan lehet meghatározni a diszlokáció- és ikerhatár sûrûséget a röntgen vonalprofil analízis alapján, mert a hexagonális anyagokban ezeknek a mennyiségek a meghatározása eltér a köbös szerkezetû anyagokétól. Például a diszlokációsûrûség meghatározásánál figyelembe kell venni a Burgers vektor populációkat, továbbá hexagonális anyagokban az ikresedés vonalprofilokra gyakorolt hatásának elmélete a közelmúltban lett beépítve a vonalprofil analízis általunk alkalmazott módszerébe Dr. Balogh Levente által, így ez egy friss kutatási terület. Dolgozatomban részletesen bemutatom ezeket a módszereket és kísérleti eredményeimen keresztül mutatom be az alkalmazásukat. 

A hexagonális fémekben ezeknek a rácshibáknak a vizsgálata azért fontos, mert ezekben az anyagokban a képlékeny deformáció kialakulásában a diszlokációs mechanizmusok mellett a deformációs ikresedés is fontos szerepet játszhat, ezért ezen anyagok esetén alapvetõen fontos ezeknek a rácshibáknak a vizsgálata. További problémát jelent, hogy a megmunkálás során ezek az anyagok textúrálódhatnak, ami megnehezíti a kiértékelést, ezért diplomamunkám során egy új eljárást dolgoztam ki a textúrált \textit{(hcp)} fémek mikroszerkezetének meghatározására.

Jelen disszertációmban elõször összefoglalom a röntgen vonalprofil analízis alapjait, az elméletét és a mikroszerkezet meghatározására kidolgozott CMWP módszerét, valamint a mérések és kiértékelések menetét. Ezek után saját kísérleti eredményeim alapján bemutatom, hogy az elmélet hogyan alkalmazható és mennyire hatékonyan mûködik diszlokációk és ikerhibák minõségi és mennyiségi meghatározására hexagonális-szoros-illeszkedésû (hcp) magnézium minták esetében, valamint részletesen bemutatom az általam kidolgozott új eljárást a textúrált anyagok mikroszerkezetének vizsgálatára és saját kísérleti eredményeimen keresztül mutatom be annak hatékonyságát.





