\pdfbookmark[1]{Kivonat}{absztrakt}
\begin{abstract}
\label{absztrakt}

Az utóbbi évtizedekben lahatõvé vált anyagtudományi vizsgálatokat végezni a mikrométeres skálán. A vizsgálatok arra engedtek következtetni, hogy ekkora méretekben alapvetõen megváltoznak a plasztikus tulajdonságok. A változás oka az, hogy míg a makroszkópikus minta végtelennek tekinthetõ, ugyanakkor a mikronos mintákat véges méretûnek kell kezelni. A deformációkért felelõs kristályhibák kölcsönhatásának hosszú hatótávolsága következtében azok megérzik  a minta szélét. Ezáltal az anyagi viselkedés új leírását kell kidolgozni, mely magában foglalja a méreteffektust is. Munkám során réz egykristályból kifaragott mikropillárok (mikronos átmérõjû hengeres oszlopok) egytengelyû összenyomásával vizsgáltam a jelenséget. A mikropillárokat fókuszált ionsugaras (FIB)megmunkálással alakítottam ki, majd a kifaragás után nanoindentációt alkalmaztuam. Az indentációs görbéken véletlenszerû helyeken deformációs ugrások keletkeznek. Az ugrás annak köszönhetõ, hogy a minta egy kb. 45°-os síkja mentén elcsúszás jön létre. A csúszások ugyanolyan kiindulási paraméterek mellett sem ugyanakkora feszültség esetén következnek be, megindulásuk statisztikus jellegû.
Elméleti és szimulációs eredmények azt bizonyítják, hogy a megcsúszásokat több, együtt mozgó és gyorsan haladó diszlokáció, azaz egy diszlokációlavina okozza. A diszlokációk ilyen kollektív viselkedése minden skálán megfigyelhetõ, ám hatásuk csak a mikronos tartományban válik szemmel láthatóvá.

A számítógépek teljesítménye lehetõvé teszi azt, hogy az anyagot atomi szinten $1000^{3}$ atom viselkedésének figyelembe vételével szimulációt végezzünk. Egy mikrométeres anyagdarabban található atomok száma is ebbe a nagyságrendbe esik. Lehetõségünk van tehát arra, hogy kísérletileg és szimulációval azonos skálán vizsgálódjunk. Ez hatalmas elõrelépést jelent a kutatásban, ugyanakkor a kétfajta vizsgálati eredmény összevethetõ, ezáltal ellenõrizve a feltételezett modell helyességét.

\newpage
\pdfbookmark[1]{Köszönetnyilvánítás}{koszonet}
\centerline{\bf Köszönetnyilvánítás }\vskip0.15truein
\label{koszonet}
Köszönetemet fejezem ki Groma István témavezetõmnek, aki kiváló szakmai tudása és tapasztalatai révén igyekezett engem a kísérleti munka során a helyes úton tartani; Havancsák Károlynak, aki sok segítséget és szakmai tanácsot nyújtott a FIB/SEM-rendszerrel kapcsolatos munkálatokhoz, Ratter Kittinek, aki a FIB-bel történõ munkák gyakorlati megvalósításában közremûködött, Szommer Péternek, aki a nanoindenter használatában nyújtott kimagasló segítséget, Ö. Kovács Alajosnak és Nguyen Quang Chinhnek a minta-elõkészítésben nyújtott szakmai segítségért és Tolnai Domonkosnak, aki a FIB/SEM-rendszer gyakorlati tanácsaival látott el.

Ezenkívül köszönöm családomnak, barátaimnak és mindazoknak, akik munkám során és a dolgozat megírása alatt szellemi támogatás mellett megjegyzéseikkel segítették e dolgozat létrejöttét. 

%\newline
\flushright{Budapest, 2011. június 6.}
\end{abstract}