Eötvös Loránd Tudományegyetem
Természettudományi Kar
Fizikai Intézet

 
   

 

 

 

 

 

mesterszakos diplomatéma részletei

A kiíró adatai
Név: Dr. Bányász István
Tudományos fokozat: CSc
Intézet: MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont, 1121 Budapest, Konkoly-Thege út 29-33
Telefonszám: 06308847750
Honlap: http://https://www.szfki.hu/~banyasz/

 

A mesterszakos diplomatéma:
Címe: Opikai fázisrácsok és hullámvezet?k készítése és min?sítése amorf és kristályos optikai anyagokban ionimplantálással
A munka jellege: kísérleti és elméleti
Szakterületi besorolás: Optika és lézerfizika
A téma rövid leírása: Az anyagok különböz? tulajdonságainak ionok implantálásával történ? megváltoztatása napjainkra kiterjedt tudományággá vált. A félvezet?gyártásban már 40 éve használnak ilyen módszereket, az optikai elemek készítésében azonban csak mintegy 20 éve alkalmazzák az ionimplantálást.

A KFKI Campus területén 1993 - ban kezd?dtek kutatások optikai elemek ionimplantálással történ? készítésére jelen pályázat témavezet?jének kezdeményezésére és vezetésével. A kutatások eredményeképpen sikerült jó mi?ség? transzmissziós optikai rácsokat el?állítani [1].
2003 - tól a kutatások nemzetközi (IFAC CNR, Firenze, Olaszország) és hazai (MTA Wigner , MTA Atomki és MTA EK) együttm?ködés keretében folynak, legutóbb egy 2011-ben megnyert négyéves OTKA kutatási támogatással. A kutatások legfontosabb újabb eredményei sík- és csatorna optikai hullámvezet?k készítése ionimplantálásal Er - adalékolt tellurit üvegben [2].

A diplomamunkáshallgató feldatai a következ?k:
Ionimplantált hullámvezet?k, transzmissziós és reflexiós optikai rácsok és komplex integrált optikai eszközök tervezése (a SRIM program segítségével). Részvétel az ionimplantálásokban. Az elkészült optikai elemek min?sítése és m?ködésének ellen?rzése a következ? módszerekkel: interferencia mikroszkópia, interferencia fáziskontraszt mikroszkópia (INTERPHAKO), sötét vonalas spektroszkópia, spektroszkopikus ellipszometria és egyéb módszerek.


Az ionimplantálások egy részét a KFKI RMKI Van de Graaff gyorsítóján kell végezni, kisebb részüket kis energiás implantereken, rétegnövesztéssel kombinálva (MFA). Ezen kívül tervezünk besugárzási kampányokat a Rez-i Nukleáris Kuatóintézet Tandetron Gyorsítóján (Rez, Csehország) és az MTA Atomki Tandetronjának nanonyalábjával. A mikroszkópos optikai min?sítésekre a
Wigner Fizikai Kutatóközpont
Nukleáris Anyagtudományi Osztályán rendelkezésre áll egy mikroszkópiai laboratórium és egy sötét vonalas spektrométer. A spektroszkópikus ellipszometriai méréseket az MTA MFA-ban kell végezni.


1. I. Bányász, M. Fried, Cs. Dücs? and Z.Vértesy, "Recording of transmission phase gratings in glass by ion implantation", Applied Physics Letters , 79, 3755-3757, (2001)
2. S. Berneschi, G. Nunzi Conti, I. Bányász, A. Watterich, N. Q. Khanh, M. Fried, F. Pászti, M. Brenci, S. Pelli, G. C. Righini "Ion beam irradiated channel waveguides in Er3+-doped tellurite glass", Applied Physics Letters, 90, 121136, (2007)
Szükséges előismeretek: matematika, fizika, informatika, angol nyelv
Egyetemi konzulens: Dr. Horváth Gábor
Tanszék: Biológiai Fizika Tanszék

 

 

 

Programozás és grafika:
Pozsgai Péter