Eötvös Loránd Tudományegyetem
Természettudományi Kar
Fizikai Intézet

 
   

 

 

 

 

 

alapszakos szakdolgozati téma részletei

LEZÁRVA!

A kiíró adatai
Név: Petrik Péter
Tudományos fokozat: PhD
Intézet: MTA-Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet (MFA)
Telefonszám: 3922502
Honlap: http://petrik.ellipsometry.hu

 

A alapszakos szakdolgozati téma:
Címe: Nanokristályos szerkezetek optikai vizsgálata
A munka jellege: kísérleti és elméleti
Szakterületi besorolás: Anyagtudomány, szilárdtestfizika
A téma rövid leírása: Az általunk alkalmazott optikai módszer, az ellipszometria a fény polarizációs állapotának a felületen való reflexió során történő megváltozását méri, amivel a felületi vékonyrétegek vastagságát nanométer alatti pontossággal lehet megmérni. 2008 őszétől laborunkban működik a jelenleg elérhető legjobb ellipszométertípus egy példánya (Woollam M2000DI). Kutatócsoportunk egyik legfontosabb kutatási területe a nanokristályos félvezetőszerkezetek modellezése és mérése (http://www.mfa.kfki.hu/photondp/ndestest/ellipso/index.html, http://people.mfa.kfki.hu/petrik). Ez két fő feladatból áll: egyrészt a méretfüggő optikai tulajdonság meghatározása a dielektromos függvény parametrizálásával, másrészt a mélységben változó szerkezet modellezése, többek között a felület és a határrétegek figyelembe vételével. Kísérleteinkben egyre többféle nanoszerkezettel találkozunk. Ezek közül legfontosabbak a Langmuir-Blodgett technikával előállított nanorészecske monorétegek, a leválasztással előállított felületi vékonyrétegek, és az ionimplantációval vagy elektrokémiai marással (porózus szilícium) előállított nanokristályos szerkezetek. A vizsgált anyagok és szerkezetek szenzorikai, napelemtechnológiai, fotonikai és félvezetőtechnológiai kutatásokhoz kötődnek. A diplomamunka célja ezen szerkezetek vizsgálatának elsajátítása, és az új ismeretek alkalmazása néhány modellszerkezeten való mérésben. A diplomamunkában elvégzendő feladatok: (1) A Woollam M2000DI ellipszométer megismerése; (2) A nanokristályos szerkezetek ellipszometriai vizsgálatával foglalkozó irodalom és a modellezési technikák megismerése és elsajátítása; (3) Mérések végrehajtása porózus szilíciumon, ionimplantált szerkezeteken és Langmuir-Blodgett nanokrisályokon; (4) A mért spektrumok kiértékelése. a rétegvastagság és szemcseszerkezet meghatározása. (További információ: http://people.mfa.kfki.hu/petrik/temak_hu.html)
Szükséges előismeretek: Analitikus gondolkodásra és önálló problémamegoldásra való készség, angol nyelv. Programnyelvek ismerete előny (MATLAB, C, Pascal).
Egyetemi konzulens:
Tanszék:

 

 

 

Programozás és grafika:
Pozsgai Péter