Eötvös Loránd Tudományegyetem
Természettudományi Kar
Fizikai Intézet

 
   

 

 

 

 

 

mesterszakos diplomatéma részletei

A kiíró adatai
Név: Borbély András
Tudományos fokozat: PhD
Intézet: ELTE Fizikai Intézet Anyagfizikai Tanszék 1117 Budapest, Pázmány Péter sétány 1/A
Telefonszám: 372-2805
Honlap: http://metal.elte.hu

 

A mesterszakos diplomatéma:
Címe: Kapcsolat a vonalprofilanalízis általános és sajátos modelljei között
A munka jellege: kísérleti és elméleti
Szakterületi besorolás: Anyagtudomány, szilárdtestfizika
A téma rövid leírása: Kristályok képlékeny alakváltozása vonalszerű kristályhibák, ún. diszlokációk, keletkezésével és mozgásával társul. Az alakváltozás során a diszlokációk jellegzetes cellaszerkezetet alakítanak ki, amely jelentősen befolyásolja a kristály mechanikai, elektromos és hővezetési tulajdonságait. A cellaszerkezetek feltérképezésének egyik módszere a nagyfelbontású röntgen diffrakció, vagy más néven a röntgen vonalprofilanalízis, amely a képlékenyen alakított kristályokon mért Bragg reflexiók intenzitáseloszlásának alakjából határozza meg az átlagos diszlokációsűrűséget illetve a diszlokációk eloszlását jellemző paramétert. Jelenleg két modell terjedt el az irodalomban, az általános Groma-Ungár-Wilkens (GUW) és egy egyedi szerkezetre kidolgozott Wilkens modellek. Az általános modell előnye, hogy bármely diszlokáció szerkezetre alkalmazható, hátránya viszont, hogy csak a profil kifutói, az intenzitáseloszlás vége használható a kiértékeléshez. A Wilkens modell előnye, hogy analitikusan ismert a profil alakja (nem csak a kifutókban), hátránya viszont, hogy az ún. korlátozottan véletlenszerű diszlokációeloszlás, amelyre a modellt kidolgozták, nem általános érvényű. A gyakorlatban a kristály felaprózódása miatt a koherensen szóró tartomány lecsökken és további járulékot ad a vonalprofilok kiszélesedéséhez, így a két hatás együttesen határozza meg a márt profil alakját. A kis szemcseméret okozta szélesedés szintén analitikusan számolható. A diplomamunka célja, hogy meghatározza numerikus szimulációk segítségével általános GUW elmélet és a sajátos Wilkens elméletek közötti kapcsolatot kis szemcseméret jelenléte esetén. Az összehasonlítást a Wilkens függvénnyel szimulált modell profilokon és képlékenyen alakított réz egykristályon mért görbéken kell elvégezni. A röntgenes mérések eredményei már rendelkezésre állnak.
Szükséges előismeretek: programozási nyelv
Egyetemi konzulens: Borbély András
Tanszék: Anyagfizikai Tanszék

 

 

 

Programozás és grafika:
Pozsgai Péter