Eötvös Loránd Tudományegyetem
Természettudományi Kar
Fizikai Intézet

 
   

 

 

 

 

 

alapszakos szakdolgozati téma részletei

A kiíró adatai
Név: Dr. Bányász István
Tudományos fokozat: CSc
Intézet: MTA Szilárdtestfizikai és Optikai Kutató Intézet
Telefonszám: 06308847750
Honlap: http://www.szfki.hu/~banyasz/

 

A alapszakos szakdolgozati téma:
Címe: Opikai fázisrácsok és hullámvezetők készítése és minősítése amorf és kristályos optikai anyagokban ionimplantálással
A munka jellege: kísérleti és elméleti
Szakterületi besorolás: Optika és lézerfizika
A téma rövid leírása: Az anyagok különböző tulajdonságainak ionok implantálásával történő megváltoztatása napjainkra kiterjedt tudományággá vált. A félvezetőgyártásban már 40 éve használnak ilyen módszereket, az optikai elemek készítésében azonban csak mintegy 20 éve alkalmazzák az ionimplantálást.

A KFKI Campus területén 1993 - ban kezdődtek kutatások optikai elemek ionimplantálással történő készítésére jelen pályázat témavezetőjének kezdeményezésére és vezetésével. A kutatások eredményeképpen sikerült jó minőségű transzmissziós optikai rácsokat előállítani [1].
2003 - tól a kutatások nemzetközi (IFAC CNR, Firenze, Olaszország) és hazai (MTA SZFKI, RMKI és MFA) együttműködés keretében folynak, jelenleg egy 2007-ben megnyert négyéves OTKA kutatási támogatással. A kutatások legfontosabb újabb eredményei sík- és csatorna optikai hullámvezetők készítése ionimplantálásal Er - adalékolt tellurit üvegben [2].

A diplomamunkáshallgató feldatai a következők: Ionimplantált hullámvezetők, transzmissziós és reflexiós optikai rácsok és komplex integrált optikai eszközök tervezése (a SRIM program segí tségével). Részvétel az ionimplantálásokban. Az elkészült optikai elemek minősítése és működésének ellenőrzése a következő módszerekkel: interferencia mikroszkópia, interferencia fáziskontraszt mikroszkópia (INTERPHAKO), sötét vonalas spektroszkópia, spektroszkópikus ellipszometria és egyéb módszerek.

Az ionimplantálások nagy részét a KFKI RMKI Van de Graaff gyorsítóján kell végezni, kisebb részüket kis energiás implantereken, rétegnövesztéssel kombinálva (MFA). A mikroszkópos optikai minősítésekre az SZFKI Kristályfizikai Osztályán rendelkezésre áll egy mikroszkópiai laboratórium, amit a közeljővőben (egy másik helyiségben) lényegesen bővíteni és korszerűsíteni fogunk. A tervek szerint az új laboratóriumba egy sötét vonalas spektroszkópiai berendezést is telepítünk. A spektroszkópikus ellipszometriai méréseket az MTA MFA-ban kell végezni.


1. I. Bányász, M. Fried, Cs. Dücső and Z.Vértesy, "Recording of transmission phase gratings in glass by ion implantation", Applied Physics Letters , 79, 3755-3757, (2001)
2. S. Berneschi, G. Nunzi Conti, I. Bányász, A. Watterich, N. Q. Khanh, M. Fried, F. Pászti, M. Brenci, S. Pelli, G. C. Righini "Ion beam irradiated channel waveguides in Er3+-doped tellurite glass", Applied Physics Letters, 90, 121136, (2007)
Szükséges előismeretek: matematika, fizika, informatika, angol nyelv
Egyetemi konzulens: Dr. Horváth Gábor
Tanszék: Biológiai Fizika Tanszék

 

 

 

Programozás és grafika:
Pozsgai Péter