Mérések

1.   A nehézségi gyorsulás mérése megfordítható ingával (képek)

A gravitációs állandó (g) mérésének egyik lehetősége, ha inga lengésidejét mérjük, és ebből számoljuk ki a gravitációs állandót. A két tengely körül lengethető megfordítható fizikai ingával végzett méréssorozat a g nagy pontosságú (< 0,1%) meghatározását teszi lehetővé.

2.   Rugalmas állandók mérése (képek)

Két ponton rögzített, középen megterhelt rúd behajlásának nagypontosságú mérésével meghatározzuk a minta anyagának Young-moduluszát. Torziós inga lengésidejének mérésével fémszál torzió moduluszát határozzuk meg.

3.   Hangfrekvenciás mechanikai rezgések vizsgálata (képek)

Az egyik oldalán befogott rúd harmonikus kényszerrezgései gerjesztésével mérjük a rúd sajátfrekvenciáit, és a rezonancia görbe paramétereit. Az örvényáramos gerjesztés, és a piezoelektromos detektálás a dinamikus Young-modulusz pontos mérését teszi lehetővé.

4.   Termoelektromos hűtőelemek vizsgálata (képek)

Félvezető Peltier-hűtőelem termikus tulajdonságainak vizsgálata. A hűtőelem áram-egyensúlyi hőmérséklet görbéjét, a hűtésérdekében elvont hőmennyiség nagyságára jellemző Peltier-együtthatót és a hűtőelem sarkain megjelenő potenciálkülönbséget jellemző Seebeck-együtthatót mérjük. Ilyen hűtőelemekkel hűtőgépeket, számítógép alkatrészeket stb. lehet egyszerűen hűteni.

5.   Fajhő mérése (képek)

Fém minták fajhõjének mérése elektromos kaloriméterrel. A mérés során a hõmérséklet adatokat számítógép gyûjti. Kétféle módszerrel mérünk fajhõt: vagy felmelegített mintát dobunk a kaloriméterbe és mérjük a közös hõmérséklet kialakulásának folyamatát, vagy a mintát és a kalorimétert együtt melegítjük és mérjük, hogy a közös hõmérséklet hogyan változik az üres kaloriméterhez viszonyítva.

6.   Fázisátalakulások vizsgálata (képek)

Fém minták olvadáspontjának, és a fázisátalakulás során felvett, vagy leadott latens hõnek mérése. A fém mintát elektromos kályhában melegítjük. A melegítést és a hûlést hõfokszabályzó vezérli, miközben számítógép méri a kályha és a minta hõmérsékletének változását. A kiértékelést számítógépes program segíti.   

7.    Mágneses szuszceptibilitás mérése (képek)

Rúd alakú minták paramágneses és diamágneses szuszceptibilitását mérjük az un. Gouy-módszerrel. A módszer a mágneses tér pontos mérését igényli. A mágneses teret Hall-szondával mérjük, amelyet a pontos mérés érdekében mágneses fluxus mérésével kalibrálunk. Az inhomogén mágneses térbe helyezett mintára a szuszceptibilitásával arányos erõ hat, így az erõ és a mágneses tér mérésével a szuszceptibilitás meghatározható. Az erõt nagypontosságú mérleggel mérjük.

8.   Mikroszkóp vizsgálata. Lencse görbületi sugarának mérése

      Folyadék törésmutatójának mérése Abbe-féle refraktométerrel (képek)

A gyakorlat a mikroszkóp működésének, beállításának megismerésére és a legfontosabb paramétereinek mérésére szolgál. Mérjük a mikroszkóp objektív nagyítását, az objektív fókusztávolságát és az objektív numerikus apertúráját. A megmért paraméterek segítségével kiszámoljuk a mikroszkóp felbontását, és mérjük egy lencse görbületi sugarát Newton-gyűrűk segítségével. Az Abbe-féle refraktométerrel oldatsorozat törésmutatóját mérjük a koncentráció függvényében, és meghatározzuk egy ismeretlen koncentrációjú oldat koncentrációját.

9.   Fényhullámhossz és diszperzió mérése (képek)

Rács és prizma tulajdonságait vizsgáljuk goniométer segítségével. A ráccsal egy spektrállámpa fényét felbontjuk, és megmérjük a kapott spektrum vonalainak hullámhosszát. A hullámhossz adatok birtokában egy üvegprizma anyagának törésmutató-hullámhossz függését vizsgáljuk.

10. Fényelhajlási jelenségek vizsgálata (képek)

Lézernyaláb keskeny résen, kettős-résen, vékony szálon és félteret eltakaró élen történő elhajlását vizsgáljuk. A Fraunhofer- és Fresnel-elhajlási képeket léptető motorral mozgatott félvezető detektorral mérjük. Az intenzitással arányos detektor jelet számítógép segítségével mérjük és értékeljük. A spektrum értékelése során meghatározzuk az elhajlást okozó tárgy méretét. Az elv hasonló, mint ahogy röntgen-diffrakció vagy elektron- diffrakció során meghatározzuk ismeretlen kristályok paramétereit.